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產(chǎn)品大類

錫晶 xijing薄膜測(cè)厚儀 CH-1-S

儀器名稱：薄膜測(cè)厚儀
儀器品牌：錫晶 xijing
儀器型號(hào)：CH-1-S
送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi)
標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳
本站售價(jià)：洽詢
關(guān)鍵參數(shù)：CH-1-S型薄膜測(cè)厚儀適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）,量程：0-1mm　分度值：0.001mm.上測(cè)頭曲率半徑：15-50mm.測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷我：0.1-0.5N.測(cè)量精度：100vm以內(nèi)＜1vm/100-250vm＜2vm/250vm＜3vm

性能參數(shù)介紹

下載說(shuō)明

軟件下載：無(wú)

資料下載：無(wú)

產(chǎn)品介紹

CH－1－S型薄膜測(cè)厚儀

技術(shù)要求和特點(diǎn)：

一、概述
   本測(cè)厚議適用于機(jī)械測(cè)量法測(cè)定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。本測(cè)厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。

二、主要參數(shù)
   1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm
   2. 上測(cè)頭曲率半徑：15-50mm
   3. 測(cè)頭對(duì)試樣施加負(fù)荷我：0.1-0.5N
   4. 測(cè)量精度：100vm以內(nèi)＜1vm
                100-250vm＜2vm
                 250vm＜3vm

電源標(biāo)準(zhǔn)

無(wú)

標(biāo)準(zhǔn)配置

CH-1-S型薄膜測(cè)厚儀 主機(jī)一套 說(shuō)明書一份。

可選附件

無(wú)

標(biāo)準(zhǔn)證書

執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。

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